新品推介 | 优利德矢网与示波器新品,覆盖射频与高速信号测量
发布时间:2026-03-25来源:仪商网

在现代电子设计与测试中,工程师既需应对高速数字信号的完整性挑战,也要精准把握射频器件的动态特性。
为此,优利德持续深化技术创新,推出一系列高性能测试方案,全面覆盖射频微波与高速时域测量场景,深度聚焦产品核心性能升级,精准对接移动通信、半导体、新能源、科研教育等关键领域的研发测试需求,确保在复杂环境下实现信号的精准捕获与深度分析,让每一次测量更高效、可控。
集高性能、大动态范围与低噪声等优势于一身,频率范围覆盖100kHz~9GHz,涵盖整个移动通信频段。其典型动态范围大于138dB,迹线噪声低至0.005dBrms,中频带宽可在10Hz~5MHz之间灵活设置,测量速度快至40μsec/点,输出功率调节范围为-55dBm~+13dBm。支持全双端口S参数测量,具备高精度、高稳定性及快速测量能力,能够满足严苛的射频测试需求。
广泛应用于5G/6G与毫米波技术、雷达通信、半导体、广播电视及科研教育等领域,适用于各类射频器件与组件的研发和生产测试。
搭载优利德自研第二代AFE芯片组,实现每通道13GHz带宽、40GSa/s高采样率与4Gpts存储深度,奠定高端信号分析的硬件基础。其波形捕获率高达1,000,000wfms/s,能够有效捕获偶发异常;ERes模式下分辨率最高可提升至12bit,精细呈现信号细节。该系列配备4个模拟通道和1个外触发通道,存储深度标配1Gpts/通道,并提供2Gpts/通道与4Gpts/通道的高配选型,满足不同场景下的深存储需求。
广泛应用于高速数字信号完整性验证、半导体芯片性能分析、5G 通信测试,以及各类工业电子与科学研究领域。
标配每通道20GSa/s采样率和12bit垂直分辨率,提供4个模拟通道与16个数字通道。ERes模式下分辨率最高可提升至16bit,存储深度标配1Gpts/通道,并支持2Gpts/通道与4Gpts/通道的选配升级。产品底噪50mV/div,满带宽底噪低至 800μV(典型值),为高精度信号测量提供可靠保障。
广泛应用于高速数字信号完整性验证、半导体芯片性能分析、5G通信测试、新能源系统监测以及电源设计与测试。
具备8通道、3GHz带宽、10GSa/s采样率、1Gpts存储深度及12位垂直分辨率,并支持通过ERes模式将分辨率提升至16位,实现更精细的信号观测。其在保持高性能硬件基础的同时,集成了电源完整性分析、三相电分析、抖动与眼图分析、协议分析及一致性测试等丰富功能,满足多样化的测试需求。
广泛应用于高速数字信号完整性验证、新能源系统监测、电源设计与测试,以及各类工业电子与科学研究领域。
(来源:优利德)

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