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数据库全球首发 | 蔡司 VersaXRM 5 Insight X 射线显微镜，全速引航三维成像新未来
VersaXRM 5 Insight 采用全新设计的架构，兼具大视野成像、大样品高分辨率成像与快速扫描成像能力，成像效率显著提高，广泛适用于材料研究，地球科学，电子半导体和生命科学等应用场景。
兼顾大成像视野和高分辨率
更灵活
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最大成像视野≥95mm，满足大尺寸样品的整体三维成像需求
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高达500nm的空间分辨率
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大工作距离RaaD（大样品）下的高分辨率成像
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平板探测器和物镜探测器切换设计灵活，可调工作距离大
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更适配大尺寸样品、复杂样品以及快速原位等多种实验装置
▲500nm线对清晰可见
双快速扫描成像模式
更高效
得益于CMOS平板探测器和物镜配备的
CMOS相机
带来的高效成像能力， 蔡司VersaXRM 5 Insight同时支持两类快速扫描成像模式，可满足多样品测试、批量筛查、工艺对比、参数优化和质量分析等应用需求。
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平板探测器快速扫描成像模式，适用于大视野、高效率数据采集
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4X物镜快速扫描成像模式，适用于需要兼顾高分辨率细节和采集效率的测试
▲ 设备内部的探测器照片，全新设计的新一代平板探测器和物镜系统
▲珊瑚样品：快速扫描模式，20s
智能软件简单高效
操作安全且拓展性强
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搭载ZEN NavX 3.0专业操控软件，简单直观易操作的工作流，轻松上手
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支持样品自动精确定位、多点位批量成像和多尺度成像，可快速定位样品待测区域
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搭载SmartShield智能防撞模块，对于大尺寸、形态复杂或特殊装夹等样品提供安心保障
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ART 6.0 AI重构工具箱支持一键式远程智能重构，进一步提升吞吐量、图像质量和数据获取效率
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广泛的拓展能力：配套XRM Python API接口支持实验定制开发；适配FIB-SEM和跨平台关联表征
▲ 蔡司NavX3.0控制软件界面
全场景适配
广泛覆盖多领域应用
新一代的硬件技术、成像架构组合、快速扫描模式以及更智能的软件控制平台和基于AI的重构技术不仅拓宽了成像视野，成像效率也显著提升，是蔡司再一次为广大用户呈现的诚意之作。
以 Insight 之名，VersaXRM 5 Insight 将凭借更全面、更灵活、更智能和更快速的成像能力，让更多用户受益于蔡司 X 射线显微镜的优异性能，继续引航 X 射线显微成像技术的未来。
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VersaXRM 5 Insight X 射线显微镜
将在
中国材料大会2026
（7月14-17日）
上全球首秀，诚邀莅临展位了解详情。
同期另有逛展直播敬请期待！
