屏下微结构检测难？别让 6–12 μm 的高度差拖垮大屏良率！

在大尺寸显示屏精密制造领域，屏下微图案高度仅6–12 μm，隐藏于多层高透介质之下。精准测量这类微小段差，已成为制约出货质量与良率提升的关键瓶颈。

LMI Technologies的Gocator 5500系列双轴线共焦3D智能传感器凭借突破性的双轴光学设计与超高扫描速率，为多层高透介质下的微结构测量提供了计量级的高速在线解决方案。

你是否面临以下检测挑战？

01、多层高透介质，传统光学分层难

显示屏包含三层透光率大于90%的透明介质，且各层折射率差极小。传统光学传感器易产生强烈的杂散光噪点，无法有效穿透并精准捕获第三层表面的真实信号。

02、微结构尺寸极小，对比度低

目标微图案宽度仅100 μm左右、高度差6–12 μm。在超薄高透基底上，难以对微观形貌进行清晰重构与准确量测。

多层高透介质下的“眼睛”：Gocator 5504

LMI Gocator 5504 双轴线共焦3D智能传感器将突破性的双轴光学设计与高达40 kHz的扫描速率相结合，一站式解决检测、精度与效率难题。

采用双轴光学设计，大幅提升信号质量与抗噪能力。即便三层介质折射率极其接近，也能准确锁定第三层微图案（100 μm 宽、6–12 μm 高）的物理反射点，剔除杂散光噪点，实现亚微米级3D精密检测。

G5504 点云图

Gocator 5504的Z轴重复性达0.07 µm，10 次静态重复性测试下，Z 轴高度标准差稳定在0.1 µm以内，赋予大屏检测计量级的数据稳定性。在提供计量级稳定数据的同时，超高频率和内置GoPxL点云拼接功能，完美匹配65 cm × 30 cm大扫描视野，全面满足大尺寸显示屏在线检测的严苛节拍要求。

关键图案位置高度差

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Gocator 5500 系列打破了“大视野”与“亚微米级高精度”不可兼得的技术瓶颈，以高稳定的三维检测能力，为智能显示产业链注入了强劲的质控动能。

LMI 将持续专注于前沿 3D 视觉技术的创新与落地，赋能高端显示及微电子领域的精密制造与良率跃升。

相约Vision China （深圳）2026

展会时间：2026年10月27日 - 29日

地点：深圳国际会展中心（宝安新馆）

LMI 展位号：9F16

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邮箱：mkt_china@lmi3d.com

网站：www.lmi3d.com