盛美上海的PECVD SiCN设备基于自研的沉积架构设计,满足先进半导体制造中日益严苛的工艺要求。该平台在单一反应腔内配置了三个工艺工位(专利申请保护中),采用旋转沉积的方式,每个工位完成总膜厚三分之一的沉积。这种设计能够实现对界面层形成、气流管理及薄膜均匀性的更精确控制。此外,盛美“一工位一射频”控制软件技术,通过每个工位独立的射频系统实现对等离子体的独立控制,大幅提升工艺的稳定性与一致性。
该设备专为300毫米晶圆工艺设计,最高工艺温度可达400摄氏度。该平台配置有四个晶圆装载口及三个工艺腔体,以支持高效的晶圆传送与工艺运行。
该设备旨在支持55纳米及以下高端IC工艺的后段金属互联工艺应用中的PECVD NDC (SiCN)工艺,应用场景包括铜氧化抑制、铜扩散阻挡层及刻蚀停止层。随着逻辑器件的微缩及集成度要求的日益严苛,对颗粒、等离子体稳定性及界面层的更精准把控变得至关重要。这些严苛要求同样正推动着先进封装领域对SiCN薄膜的需求——其薄膜特性非常适用于下一代器件集成中的晶圆级键合等应用。在这些应用中,SiCN薄膜的高粘附性、高键合能及致密特性,有助于提升集成可靠性、抑制金属离子扩散,并支持更高密度的器件架构。