半导体良率上不去?微量氧监测迎来国产替代新方案
在精密的半导体制造中,氧气是典型的隐形工艺污染物,高精度微量氧监测已成为支撑工艺稳定、提升良率不可或缺的一环。面对极为严苛的监测需求,进口品牌长期成为首选方案,企业采购、运维成本普遍偏高,行业亟需稳定可靠的国产化监测方案。本文从微量氧监测的必要性与技术难点出发,详解国产微量氧分析技术如何攻克行业痛点,实现高端设备国产替代,助力半导体工艺提质与良率提升。
一、微量氧监测:半导体可靠性与良率的关键防线

半导体工艺环境中的微量氧污染极易引发不必要的氧化反应,导致集成电路和硅片产生缺陷,损坏薄膜结构的完整性,最终降低产品的均匀性与使用可靠性。即便是低至ppm级别的氧浓度,也可能显著损害元件性能,造成良率下降。因此,精准监测设备腔室中的氧浓度,是稳定工艺品质、保障器件性能、提升量产良率的关键环节。
二、 微量氧监测的难点与国产化需求

当前,半导体工艺中的氧浓度监测主要面临以下三大难点:
1、 需实现10 ppm以下超低浓度的氧监测;
2、 需支持真空环境下氧浓度的连续、稳定监测;
3、 需在还原气氛中监测微量O₂浓度变化,保障设备安全稳定运行。
上述技术难点相互叠加,对分析设备的精度、适配性与稳定性均提出了极高要求。与此同时,国内高端微量氧分析设备市场长期被进口产品垄断。2025年《政府工作报告》明确提出突破关键核心技术、推动国产替代,这对保障产业链自主安全具有重大意义,加快推动该类高端分析仪器的国产化已上升为国家层面的迫切任务。
三、 国产替代优选方案:四方仪器微量氧分析仪实现PPM级监测精度

针对半导体行业微量氧监测痛点与国产化替代需求,在气体分析领域拥有超20年工业级应用经验的武汉本土企业——四方仪器,依托多年在氧化锆传感器及气体分析仪领域的深耕,公司成功推出微量氧分析仪Gasboard-3050系列产品。该系列产品最低分辨率达0.1 ppm,量程范围0~10ppm、0~100ppm、0~1000ppm,支持自动切换。搭载经现场验证的氧化锆传感器,具备优异的再现性与高速响应特性。
凭借完全自主的核心技术优势,该系列产品已在国内多家半导体行业头部企业实现成熟应用,成为国产替代优选方案。

图1 四方仪器氧化锆传感器生产线及不同类型氧化锆传感器芯片产品
四方仪器微量氧分析仪 Gasboard-3052
该型号采用远程原位传感器设计,传感器可直接通过真空接头安装于真空腔体,适用于需持续监测氧浓度的场景,如半导体设备、手套箱、氮气管线、真空腔体及其他低氧/无氧环境。其氧化锆传感器寿命长、稳定性高,在适当维护条件下可多年免更换。该型号产品可广泛用于半导体制造、OLED生产、3D打印等使用惰性气体的工业场合。

图2 微量氧分析仪Gasboard-3052
产品主要特点:
1、量程范围:0~10ppm、0~100ppm、0~1000ppm,自动切换,覆盖多数半导体真空腔体监测需求;
2、法兰接口,即插即用;
3、长效低温氧化锆传感器;
4、支持真空环境运行(最低20托);
5、泄漏率<1×10⁻⁹ mbar·L/s。
四方仪器氧分析仪 Gasboard-3053
该型号为抽取集成式设计,整合了宽量程氧化锆传感器、前处理单元和采样泵,适用于除真空腔体外的多种应用场景,如SMT工艺中的回流焊炉等。

图3 氧分析仪Gasboard-3053
产品主要特点:
1、量程范围:0~10~100~1000ppm,0~25%,自动切换,适应浓度波动大的场合;
2、压力变化自适应:内置压力传感器,可补偿气体压力微小变化,保证读数稳定;
3、适用于还原性气氛:当样品含可燃物时,铂催化剂确保气体在接触电极前达到平衡,从而准确测量总氧含量。
结语

微量氧的精准监测是决定半导体良率的关键环节。四方仪器微量氧分析仪依托自主核心传感技术,兼具高精度监测与稳定可靠的性能表现,精准破解行业痛点,实现高端分析仪器国产替代。产品助力半导体企业优化工艺、提升良率、降低成本,同时夯实供应链安全,护航中国半导体制造。
注明:以上内容由四方仪器提供,需要详细了解的朋友请联系四方仪器市场部经理Shirley Yu 。联系电话:18627742310(微信同号)

