N型与P型半导体:掺杂如何改变载流子浓度?
先记住一句话:掺杂不是把导体颗粒塞进硅,而是用少量杂质原子替换晶格中的硅原子,引入容易电离的能级。施主让电子成为多数载流子,受主让空穴成为多数载流子;N型和P型描述的是导电角色,不是材料带净电。
纯净硅中,电子要从价带跨过完整带隙进入导带,才能形成可移动的导带电子与价带空穴。掺杂后,晶格中出现靠近带边的浅杂质能级,载流子获得较小的热能就能被激活。因此,少量杂质便能让电子或空穴浓度改变许多个数量级。
这里主要讨论常温、热平衡、非简并掺杂的基础模型。在这个范围内,掺杂首先改变的是载流子浓度和费米能级位置,不是简单地把硅的本征带隙“改宽”或“改窄”。重掺杂时会出现带隙变窄、杂质带等效应,不能再套用全部近似。
以磷掺杂硅为例。磷有五个价电子,其中四个参与邻近硅原子的共价键,剩下一个电子束缚较弱。能带图中,这对应于导带下方不远处的施主能级 ED。常温下,电子容易从施主能级进入导带,磷原子失去电子后成为固定在晶格位置的正施主离子 D+。
导带电子能够响应电场移动,D+却不能像自由载流子那样穿过晶体。电子因此成为多数载流子,空穴成为少数载流子,这就是N型半导体。N来自negative carrier,指主要参与导电的是负电电子,并不表示整块材料带负电。
以硼掺杂硅为例。硼只有三个价电子,与四个邻近硅原子成键时少一个电子。能带图中,价带上方不远处出现受主能级 EA。价带电子容易进入这个能级并被受主束缚,价带因此留下一个可以等效移动的空穴。
受主得到电子后成为固定负离子 A−;真正沿价带传递的是空穴。空穴成为多数载流子,电子成为少数载流子,材料称为P型。空穴是价带未被电子占据的状态,不是混入晶体的一颗可自由运动的正离子。

图1:N型与P型半导体的浅杂质能级、离化杂质和多数载流子
在杂质基本电离且浓度远高于本征载流子浓度时,N型材料的电子浓度可近似由净施主浓度决定,P型材料的空穴浓度可近似由净受主浓度决定。若施主和受主同时存在,两者会发生补偿,多数载流子类型由净掺杂决定。
热平衡、非简并条件下,电子浓度 n、空穴浓度 p 与本征浓度 ni满足一个核心关系:n·p=ni2。所以施主让 n 大幅增加时,p 必然下降;受主让 p 增加时,n 随之下降。掺杂改变了两类载流子的比例,却没有让另一类载流子绝对消失。
材料为何仍近似电中性?N型中,移动电子的负电荷由固定 D+补偿;P型中,移动空穴的正电荷由固定 A−补偿。正负电荷在宏观体积内仍基本平衡。只有结区、表面或外加电场造成空间电荷分离时,局部区域才会偏离准中性。

图2:掺杂、质量作用定律与电荷中性的关系
一句话定义:N型以电子为多数载流子,P型以空穴为多数载流子。
核心因果链:替位杂质 → 浅能级 → 杂质电离 → 多数载流子浓度上升 → 电导类型改变。
① 施主给出电子后成为固定正离子,形成N型。
② 受主接收价带电子后留下空穴,形成P型。
③ 热平衡下多数载流子增加,少数载流子依 n·p=ni2减少。
常见误解:N型带负电、P型带正电。错误;N/P只表示多数载流子,宏观材料仍近似电中性。
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相关知识:本征半导体、电子与空穴、施主与受主、载流子浓度、电荷中性。
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[1] MIT 6.012:Equilibrium Electron and Hole Concentration from Doping
https://ocw.mit.edu/courses/6-012-microelectronic-devices-and-circuits-spring-2009/794ec73182c1ef421d3b9f218a8adcd2_MIT6_012S09_rec02.pdf
[2] MIT 6.012:Introduction to Semiconductors
https://ocw.mit.edu/courses/6-012-microelectronic-devices-and-circuits-fall-2009/resources/mit6_012f09_lec01/
[3] MIT 3.024:Extrinsic Semiconductors and Carrier Engineering
https://ocw.mit.edu/courses/3-024-electronic-optical-and-magnetic-properties-of-materials-spring-2013/4be419e54b9109dce3f42e7db44d71d7_MIT3_024S13_2012lec17.pdf
[4] MIT 3.23:The Law of Mass Action
https://ocw.mit.edu/courses/3-23-electrical-optical-and-magnetic-properties-of-materials-fall-2007/resources/lec13/
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