中星联华亮相第三届CCF芯片大会，助力AI智算光电互连新时代！

2026年7月18日至20日，第三届CCF芯片大会（CCF Chip 2026）在江苏无锡国际会议


中心


隆重举行。本届大会以“攻坚强芯核，自主铸芯魂”为主题，吸引1700余名参会代表，汇聚多位院士、百余位国家级高层次人才，共设12场大会主旨报告、48场热点


技术论坛


。

作为国产高端


测试测量


仪器的领军企业，

中星联华

深度参与本次大会，通过

展台展示、现场直播及冠名分


论坛



等多种形式，全面展现了其在高速互连测试领域的技术突破与产业担当。

01 展台直击

2026

在大会展览区，中星联华展台凭借丰富的产品矩阵吸引了大量芯片设计


工程师


、系统集成专家及高校科研人员的驻足交流。

中星联华现场展示了三大核心解决方案：


22


4G


SerDes


芯片测试


、高速光芯片测试、


TI


A/Driver/CDR等电芯片测试


，精准覆盖从短距光互联到超高速智算集群的不同测试需求。

224G SerDes芯片测试、高速光芯片测试和TIA/Driver/CDR等电芯片测试中使用到的


SL3000A-Pro系列224G高级注抖误码仪


，是

全能型224G高级压力眼生成及物理层分析专家——JIT BERT

，具有以下核心特点：

速率范围：最高可支持232Gbps

通道数：4发4收，支持单机扩展到8发8收

丰富的抖动注入，支持注入SJ/PJ/RJ/BUJ抖动

接收端ED支持高级自动均衡功能轻松满足各种复杂测试环境

支持虚拟FEC的高级直方图以及物理层突发误码分析等功能

展台现场，中星联华技术团队与来自各个高校、企业等的技术专家进行了深入交流，共同探讨了从SerDes芯片测试到高速


光电


芯片测试的实践痛点。

02 现场直播

2026

大会期间，


中星联华


联合

万里眼

、

iPasslabs

在展台开展了

现场直播与联调测试

，共话


AI


浪潮下的PCle/112G/224G高速


信号


测试难点与痛点。

直播回放正在快马加鞭地重制中，感兴趣的小伙伴可以持续关注中星联华的视频号哦！

直播中，中星联华224G误码分析仪与万里眼90GHz带宽


示波器


配合，现场演示了112G与224G的眼图测试，演示结果展现

了


中星联华误码仪在224G速率下优异的信号质量。

直播不仅展示了中星联华224G误码仪在112G/224G超高速测试上的成熟能力，更通过“从校准到实测”的全流程演示，

展现了国产仪器已初步具备与国际一流产品同台竞技的实力

。

03 Panel研讨

2026

7月18日下午，由中星联华冠名的 “赋能智算系统的光电互连论坛” 圆满举行。论坛汇聚了中国移动研究院、之江实验室、纵慧芯光、复旦大学、南京大学及奇异摩尔等产学研专家。

其中，Panel研讨环节由中星联华技术支持总监苏水金先生主持。论坛Panel环节围绕以下五大核心议题展开了激烈讨论：

“

AI大模型推动下，224G已落地，448G何时到来？

”

“

光模块、SerDes、交换芯片面临哪些瓶颈?

”

“

VCSEL、硅光、Micro-


LED


谁将成为主流?

”

“

Scale-up与Scale-out网络将如何演进?

”

“

448G时代最大的挑战是设计问题还是测试问题?

”

当主持人苏水金抛出 “

448G时代最大的挑战是设计问题还是测试问题？

” 这一问题时，引发了全场最热烈的讨论。

iPasslabs曾志先生指出，未来448G的测试对示波器和误码仪提出了极高要求。奇异摩尔王彧先生则补充提醒，除测试仪器本身外，测试夹具与


连接器


等组件的寄生效应在如此高频率下同样不可忽视，448G时代的夹具挑战将更为严峻。

论坛最后达成了重要共识：

448G时代，设计与测试已不再是先后关系，而是需要从芯片规划阶段就深度协同的共生关系。

测试仪表厂商需提前介入标准制定与芯片预研，才能确保“测得出、测得准”。

04 总结

2026

从展台上的三大解决方案，到直播间里的112G/224G眼图实战，再到分论坛上关于448G时代何时到来的深度思辨——中星联华在CCF芯片大会上的全方位亮相，不仅展示了国产高端测试仪器从“跟跑”到“并跑”的技术跨越，更彰显了其作为产业生态共建者的责任担当。

在AI算力狂奔、互连速率每两年翻番的时代浪潮下，448G误码仪才是满足客户需求的行业未来的研发目标。而中星联华将以扎实的技术积累和敏锐的产业洞察，加快技术突破与产品研发的脚步，持续为国产智算产业的高速发展提供测试测量的重要基石。